Forschungsbericht 2025

Betriebseinheit Elektronenmikroskopie BEEM

Leitung: Ritter, Martin

Institut auf TORE
Institutswebsite

Publikationen

• Defect migration in supercrystalline nanocomposites - Journal Article
  Lapkin, Dmitry; Yan, Cong; Gürsoy, Emre; Sternlicht, Hadas; Plunkett, Alexander; Bor, Büsra; Kim Young Yong; Assalauova, Dameli; Westermeier, Fabian; Sprung, Michael; Krekeler, Tobias; Rout, Surya Snata; Ritter, Martin; Kulkarni, Satishkumar; Keller, Thomas F.; Schneider, Gerold A.; Vonbun-Feldbauer, Gregor; Meißner, Robert; Stierle, Andreas; Vartanyants, Ivan A.; Giuntini, Diletta
  ACS Nano 19 (51): 42881-42896 (2025)
  Open Access | Publisher DOI
  
  
• High-temperature He+ Irradiation of Low-iron-bearing olivine: laboratory simulations of space weathering on Mercury - Journal Article
  Rout, Surya Snata; Kentsch, Ulrich; Dohmen, Ralf; Traeger, Franziska; Das, Swarna Prava; Becker, Hans Werner; Facsko, Stefan; Ritter, Martin
  Planetary Science Journal 6 (11): 269 (2025)
  Open Access | Publisher DOI
  
  
• 2D photonic crystal emitter at 1,400°C for thermophotovoltaic energy harvesting - Journal Article
  Chirumamilla, Manohar; Vaidhyanathan Krishnamurthy, Gnanavel; Häntsch, Quynh Yen; Finsel, Maik; Shang, Guoliang; Rout, Surya Snata; Maiwald, Lukas; Krekeler, Tobias; Ritter, Martin; Störmer, Michael; Pedersen, Kjeld; Vossmeyer, Tobias; Schneider, Gerold A.; Eich, Manfred; Petrov, Alexander
  Cell Reports 6 (10): 102850 (2025)
  Open Access | Publisher DOI
  
  
• How peritectic melting forms bicontinuous microstructures - Journal Article
  Li, Zhongyang; Lührs, Lukas; Krekeler, Tobias; Weissmüller, Jörg
  Acta Materialia 289: 120917 (2025)
  Open Access | Publisher DOI
  
  
• Micro- and nanostructural investigations of high and ultra-high performance concrete under fatigue - Journal Article
  Engelhardt, Michael; Kalytta-Mewes, Andreas; Volkmer, Dirk; Lohmann, Jessica; Ritter, Martin; Schaan, Gunnar; Schmidt-Döhl, Frank; Ali, Mohamed Abubakar; Basaldella, Marco; Haist, Michael; Kern, Bianca; Lohaus, Ludger; Oneschkow, Nadja; Rozanski, Corinna; Timmermann, Tim; Grosse, Christian; Birtel, Veit; Garrecht, Harald; Madadi, Hamid; Markert, Martin; Steeb, Holger
  International Journal of Fatigue 199: 109038 (2025)
  Open Access | Publisher DOI
  
  
• Generative adversarial networks for creating realistic training data for machine learning-based segmentation of FIB tomography data - Journal Article
  Sardhara, Trushal; Cyron, Christian J.; Ritter, Martin; Aydin, Roland
  Machine Learning: Science and Technology 6 (2): 025023 (2025)
  Open Access | Publisher DOI
  
  
• Tuning the crystallization temperature of titanium dioxide thin films by incorporating silicon dioxide via supercycle atomic layer deposition - Journal Article
  Hedrich, Carina; Deduytsche, Davy; Petit, Robin; Krekeler, Tobias; Peng, Jun; Ritter, Martin; Dendooven, Jolien; Detavernier, Christophe; Blick, Robert H.; Zierold, Robert
  Surfaces and Interfaces 57: 105696 (2025)
  Open Access | Publisher DOI
  
  
• Effects of Si/Al molar ratio on the microstructure of Metakaolin-based geopolymers - Conference Paper
  Lohmann, Jessica; Krekeler, Tobias; Ritter, Martin; Schmidt-Döhl, Frank
  Microscopy Conference 2025
  
  

Forschungsdaten

• Research data - Generative adversarial networks for creating realistic training data for machine learning-based segmentation of FIB tomography data - Dataset
  Sardhara, Trushal
  Open Access
  
  

Projekte

• EXC 3120 BlueMat - Cross Area Imaging
  Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG); Laufzeit 2026-2032
  Projektleitung: Lehmkühler, Felix; Zeller-Plumhoff, Berit
  Co-Projektleitung: Burger, Martin; Greving, Imke; Kramer, Denis; Madsen, Anders; Penn, Alexander; Ritter, Martin; Vagovic, Patrik
  Mitarbeitende: Özdemir, Melis; McPeak, Joseph; Silja Flenner; Malte Bruhn; Sina Röper
  Externe beteiligte Einrichtungen: Helmholtz-Zentrum Hereon; Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY; Helmut-Schmidt-Universität; European X Ray Free Electron Laser Facility GmbH
  
  
• SPP 2436: Mikroanalytische und mikrostrukturelle Untersuchungen zum Erhärtungs- und Carbonatisierungsverhalten aktivierter tonbasierter Materialien
  Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG); Laufzeit 2024-2028
  Projektleitung: Schmidt-Döhl, Frank; Ritter, Martin
  Mitarbeitende: Zeidler, Roya
  
  
• Environmental und in-situ Rasterelektronenmikroskop
  Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG); Laufzeit 2023-2026
  Projektleitung: Ritter, Martin
  
  
• Beton - Einfluss der Art grober Gesteinskörnung auf Struktur und Eigenschaften von ultrahochfesten Beton
  Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG); Laufzeit 2022-2026
  Projektleitung: Schmidt-Döhl, Frank; Ritter, Martin
  Mitarbeitende: Schaan, Gunnar; Lohmann, Jessica
  
  
• SPP 2020: Zyklische Schädigungsprozesse in Hochleistungsbetonen im Experimental-Virtual-Lab
  Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG); Laufzeit 2020-2026
  Projektleitung: Schmidt-Döhl, Frank; Ritter, Martin; Dosta, Maksym
  Mitarbeitende: Rybczynski, Sebastian; Schaan, Gunnar
  
  

Kooperationspartner

• PTB Physikalisch-Technische Bundesanstalt Braunschweig und Berlin
• point electronic GmbH

Großgeräte

• EM UC7 Grundgerät mit Powerstroke,Stereomikroskop
  Hersteller: Leica Mikrosysteme Vertrieb GmbH
  DOI: 10.15480/882.13953
  DFG-Geräteklassifikation: 4600 -- Mikrotome, Ultramikrotome
  
  
• FE-REM LEO 1530 GEMINI
  Hersteller: LEO, München
  DOI: 10.15480/882.13956
  DFG-Geräteklassifikation: 5120 -- Rasterelektronenmikroskope (REM)
  
  
• FEI Talos 200FX
  Hersteller: Fei Deutschland GmbH
  DOI: 10.15480/882.13957
  DFG-Geräteklassifikation: 5100 -- Elektronenmikroskope (Transmission)
  
  
• Leica EM RES102 Ionen Beam Milling System,Basic
  Hersteller: Leica Mikrosysteme Vertrieb GmbH
  DOI: 10.15480/882.13952
  DFG-Geräteklassifikation: 8380 -- Ionenstrahl-Quellen (zum Anätzen und Anpolieren im Vakuum)
  
  
• Leica EM TXP Basisgerät
  Hersteller: Leica Mikrosysteme Vertrieb GmbH
  DOI: 10.15480/882.13954
  DFG-Geräteklassifikation: 5070 -- Mechanisches Mikroskop-Zubehör und Hilfsgeräte
  
  
• Lichtmikroskop
  Hersteller: Carl Zeiss Microscopy GmbH
  DOI: 10.15480/882.16539
  DFG-Geräteklassifikation: 5000 -- Labormikroskope
  
  
• Rasterelektronenmikroskop
  Hersteller: diverse Lieferanten
  DOI: 10.15480/882.16528
  DFG-Geräteklassifikation: 5120 -- Rasterelektronenmikroskope (REM)
  
  
• Rasterelektronenmikroskop - FEI Helios Nanolab G3 UC
  Hersteller: Fei Deutschland GmbH
  DOI: 10.15480/882.13955
  DFG-Geräteklassifikation: 5120 -- Rasterelektronenmikroskope (REM)
  
  
• Rasterelektronenmikroskop Supra 55VP
  Hersteller: Carl Zeiss NTS GmbH
  DOI: 10.15480/882.13949
  DFG-Geräteklassifikation: 5120 -- Rasterelektronenmikroskope (REM)
  
  
  • Rasterelektronenmikroskop Supra 55VP - Erweiterung: Lithographie Sys
    Hersteller: Carl Zeiss NTS GmbH
    DOI: 10.15480/882.13986