Forschungsbericht 2024

Betriebseinheit Elektronenmikroskopie BEEM

Leitung: Ritter, Martin

Institut auf TORE
Institutswebsite

Publikationen

• Tuning the crystallization temperature of titanium dioxide thin films by incorporating silicon dioxide via supercycle atomic layer deposition - Journal Article
  Hedrich, Carina; Deduytsche, Davy; Petit, Robin; Krekeler, Tobias; Peng, Jun; Ritter, Martin; Dendooven, Jolien; Detavernier, Christophe; Blick, Robert H.; Zierold, Robert
  Surfaces and Interfaces 57: 105696 (2025)
  Open Access | Publisher DOI
  
  
• Switchable 3D Photonic Crystals Based on the Insulator-to-Metal Transition in VO2 - Review Article
  Peng, Jun; Brandt, Julia; Pfeiffer, Maurice; Maragno, Laura G.; Krekeler, Tobias; Thonakkara James, Nithin; Henf, Julius; Heyn, Christian; Ritter, Martin; Eich, Manfred; Petrov, Alexander; Pagnan Furlan, Kaline; Blick, Robert H.; Zierold, Robert
  ACS Applied Materials and Interfaces 16 (49): 67106-67115 (2024-12-11)
  Open Access | Publisher DOI
  
  
• Enhancing 3D reconstruction accuracy of FIB tomography data using multi-voltage images and multimodal machine learning - Journal Article
  Sardhara, Trushal; Shkurmanov, Alexander; Li, Yong; Riedel, Lukas; Shi, Shan; Cyron, Christian J.; Aydin, Roland; Ritter, Martin
  Nanomanufacturing and Metrology 7 (1): 4 (2024)
  Open Access | Publisher DOI
  
  
• Multi-scale structural characterization of ceramic-based photonic glasses for structural colors - Journal Article
  Häntsch, Quynh Yen; Diaz, Ana; Holler, Mirko; Krekeler, Tobias; Ritter, Martin; Rosenfeldt, Sabine; Retsch, Markus; Pagnan Furlan, Kaline
  Discover Nano 19 (1): 114 (2024)
  Open Access | Publisher DOI
  
  
• DEM-based analysis of fatigue-induced damage using a cycle-jump technique - Conference Paper
  Rybczynski, Sebastian; Schaan, Gunnar; Skorych, Vasyl; Ritter, Martin; Schmidt-Döhl, Frank
  20th fib Symposium on ReConStruct: Resilient Concrete Structures, 2024
  
  
• Role of slice thickness quantification in the 3D reconstruction of FIB tomography data of nanoporous materials - Journal Article
  Sardhara, Trushal; Shkurmanov, Alexander; Li, Yong; Shi, Shan; Cyron, Christian J.; Aydin, Roland; Ritter, Martin
  Ultramicroscopy 256: 1-9 (2024)
  Open Access | Publisher DOI
  
  

Projekte

• Beton - Einfluss der Art grober Gesteinskörnung auf Struktur und Eigenschaften von ultrahochfesten Beton
  Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG); Laufzeit 2022-2025
  Projektleitung: Schmidt-Döhl, Frank; Ritter, Martin
  Mitarbeitende: Schaan, Gunnar
  
  
• SPP 2020: Zyklische Schädigungsprozesse in Hochleistungsbetonen im Experimental-Virtual-Lab
  Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG); Laufzeit 2020-2024
  Projektleitung: Schmidt-Döhl, Frank; Ritter, Martin; Dosta, Maksym
  Mitarbeitende: Rybczynski, Sebastian; Schaan, Gunnar
  
  
• SFB 986: Teilprojekt B09 - Mikrostrukturbasierte Klassifizierung und elektronenmikroskopische Analyse nanoporöser Metalle durch maschinelles Lernen
  Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG); Laufzeit 2020-2024
  Projektleitung: Cyron, Christian J.; Ritter, Martin
  
  
• SFB 986: Zentralprojekt Z03 - Elektronenmikroskopie an multiskaligen Materialsystemen
  Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG); Laufzeit 2012-2024
  Projektleitung: Ritter, Martin
  Mitarbeitende: Krekeler, Tobias; Rout, Surya Snata
  
  

Kooperationspartner

• PTB Physikalisch-Technische Bundesanstalt Braunschweig und Berlin
• point electronic GmbH

Großgeräte

• EM UC7 Grundgerät mit Powerstroke,Stereomikroskop
  Hersteller: Leica Mikrosysteme Vertrieb GmbH
  DOI: 10.15480/882.13953
  DFG-Geräteklassifikation: 4600 -- Mikrotome, Ultramikrotome
  
  
• FE-REM LEO 1530 GEMINI
  Hersteller: LEO, München
  DOI: 10.15480/882.13956
  DFG-Geräteklassifikation: 5120 -- Rasterelektronenmikroskope (REM)
  
  
• FEI Talos 200FX
  Hersteller: Fei Deutschland GmbH
  DOI: 10.15480/882.13957
  DFG-Geräteklassifikation: 5100 -- Elektronenmikroskope (Transmission)
  
  
• Leica EM RES102 Ionen Beam Milling System,Basic
  Hersteller: Leica Mikrosysteme Vertrieb GmbH
  DOI: 10.15480/882.13952
  DFG-Geräteklassifikation: 8380 -- Ionenstrahl-Quellen (zum Anätzen und Anpolieren im Vakuum)
  
  
• Leica EM TXP Basisgerät
  Hersteller: Leica Mikrosysteme Vertrieb GmbH
  DOI: 10.15480/882.13954
  DFG-Geräteklassifikation: 5070 -- Mechanisches Mikroskop-Zubehör und Hilfsgeräte
  
  
• Rasterelektronenmikroskop - FEI Helios Nanolab G3 UC
  Hersteller: Fei Deutschland GmbH
  DOI: 10.15480/882.13955
  DFG-Geräteklassifikation: 5120 -- Rasterelektronenmikroskope (REM)
  
  
• Rasterelektronenmikroskop Supra 55VP
  Hersteller: Carl Zeiss NTS GmbH
  DOI: 10.15480/882.13949
  DFG-Geräteklassifikation: 5120 -- Rasterelektronenmikroskope (REM)
  
  
  • Rasterelektronenmikroskop Supra 55VP - Erweiterung: Lithographie Sys
    Hersteller: Carl Zeiss NTS GmbH
    DOI: 10.15480/882.13986
    DFG-Geräteklassifikation: 5120 -- Rasterelektronenmikroskope (REM)