Forschungsbericht 2007



Optische Mustererkennung

Institut: Optische und Elektronische Materialien
Projektleitung: Prof.Dr. Manfred Eich
Stellvertretende Projektleitung: Prof.Dr. Manfred Eich
Projektnummer: E.4-09.028
Laufzeit: 30.01.2009 - 30.01.2010


 

Einführung

Für viele Anwendungen ist eine genaue Ermittlung dreidimensionaler Oberflächeninformationen von Objekten wichtig. In der Qualitätskontrolle einer industriellen Fertigung müssen produktionsbedingte Abweichungen der Werkstücke von den vorgegebenen Sollmaßen erfasst werden. In einer darauf folgenden schnellen Datenanalyse sollen fehlerhafte Werkstücke erkannt und schließlich ausgesondert werden. Mechanische Vermessungen sind während eines Produktionsprozesses häufig zu zeitaufwendig oder von vorneherein gar nicht möglich. Mit dem berührungslos arbeitenden Lasertriangulationsverfahren (Sheet-of-light-Verfahren, Lichtschnittverfahren) läßt sich diese Aufgabe mit großer Zuverlässigkeit und hoher Präzision erfüllen.

Die Arbeitsgruppe

Unsere Arbeitsgruppe untersucht seit einigen Jahren unterschiedliche 3D-Scan-Methoden. Zu den von uns entwickelten 3D-Scanmethoden gehören nicht nur solche, mit denen man dreidimensionale Oberflächentopographien aufzeichnen kann. Wir haben im Bereich des Scanning Second Harmonic Generation (SSHG) von Hochfeldgepolten Polymerfilmen eine Methode entwickelt, die es erlaubt, die Orientierungsverteilungen von Chromophoren innerhalb von Polymerfilme dreidimensional aufzuzeichnen.

Folgende Aufgabenbereiche wird durch unsere Arbeitsgruppe vertreten:

  • Bildsignalverarbeitung und Objekterkennung: Repräsentation und Transformation von Bildsignalen Lokale und globale Merkmalsextraktion aus Bilddaten Segmentierung von Bilddaten
  • Statistische Mustererkennung (global): Entwurf von Klassifikatoren für die Objekterkennung Theorie und experimentelle Untersuchungen softwareseitige Realisierung der Bilderkennungsverfahren
  • Bild- und Bildfolgenanalyse: Repräsentation, Speicherung von Objektdaten Rekonstruktion von 3D-Daten 3D-Objekt-Modellierung und -Erkennung dynamischer Vorgänge
Weitere Informationen zu diesem Forschungsprojekt können Sie hier bekommen.

 

Publikationen
  • 4-09.083V

    M. Adameck, M. Hossfeld, M. Eich, "Selective Stereo Gradient Vision System for Rotation and Translation Invariant Classification of Minted Objects with Specular Metallic Surfaces", Proc. of SPIE 4661, 206 (2002).

  • 4-09.087V

    M. Adameck, M. Hossfeld, M. Eich, "Three color selective stereo gradient method for fast topography recognition of metallic surfaces", Proc. of SPIE 5011 (2003).

  • 4-09.125V

     M. Hoßfeld, W. Chu, M. Adameck,M. Eich, "Fast 3D-Vision System to Classify Metallic Coins by their Embossed Topography", Electronic Letters on Computer Vision and Image Analysis 5, 4, 47, (2006)


Stichwörter

  • Lasertriangulation
  • Lichtschnittverfahren
  • Mustererkennung
  • Sheet-of-light